產品中心
                    熱門品牌展示
                    產品展示
                    • 支持從反射/透射型 LCD 填充單元到帶濾色器的空單元的各種單元
                    • 評估光源在紫外線區域的輻射。 ? 通過光譜輻射度測量高精度測量亮度 ? 支持紫外線、可見光和紅外線的寬測量波長范圍 ? 可以進行光生物 安全性評估 它是一種可以測量紫外線亮度的有限設備。
                    • “紫外分光輻照度測量系統IL100”評估光源在紫外區的輻照度。 ?從光譜輻照度測量中高精度測量照度 ? 從紫外線到可見光的寬測量波長范圍 ?可選擇的照度頭適用于高斜入射特性等應用 ?可以進行生物系統評估必不可少的PFD測量 它是一種即使在紫外線區域也能實現高精度測量的設備。 產品咨詢
                    • 評估 UV LED 的光分布特性。 ?基于輻射強度/輻照度的光分布評估 ?通過光譜光分布評估每個波長的輻射強度 可視化用于**和樹脂固化的光源的不均勻照射。
                    • 它是一種可以與生產線的控制信號同步,高速在線評估 LED 光學特性的設備。 LE-5400 提供質量控制所需的光學特性信息,例如 NG 判斷和分類。
                    • 它測量從 LED 到照明的各種光源的總光通量。 ?積分球+分光鏡支持從總光通量到顏色測量的廣泛范圍。 ?可以通過控制光源的加熱/冷卻來評估溫度特性 。繁瑣操作要求 測量精度高集成半球,樣品組方便 測量大功率激光光源瓦級對應 測量系統對應任何場景總光通量測量多年經驗,滿足需求支持。
                    • 一種測量照明設備配光特性的裝置。 ?使用內部開發的分光鏡實現高精度測量! -顏色可以與光分布數據一起測量!- 即使在光譜測量中也可實現相當于照度計類型的高速測量! ?可根據配光測量結果進行照度分析!!! -符合標準測量系統!
                    • 它是一種延遲測量設備,支持所有類型的薄膜,例如用于 OLED 的偏光板、層壓延遲膜和帶有 IPS 液晶延遲膜的偏光板。 實現與超高Re.60000 nm兼容的高速、高精度測量。 可以“無損、無剝離”地測量薄膜的層壓狀態。 此外,它還配備了簡單的軟件和校正功能,支持因樣品重新定位而導致的錯位,可輕松實現高精度測量。
                    • 評估 UV LED 的輻射通量。 ? 性能更高的紫外線 LED 的輸出評估 ? 溫度評估與溫度控制單元相結合 支持 紫外線 LED 的 光學特性評估,預計將被**、凈化和樹脂固化。
                    • 評估和分析不斷發展的 FPD 制造過程中的各種薄膜
                    • 可以基于與 NIMS 共同開發的單粒子診斷方法* 進行測量。 * 與國立材料科學研究所、弘前直人研究員和武田隆研究員聯合研究
                    • 非常適合FPD生產過程中的所有檢測,如濾色片光學特性檢測和玻璃基板膜厚檢測。
                    • 可以立即測量優良量子效率(優良量子產率)。與粉末、溶液、固體(薄膜)和薄膜樣品兼容。低雜散光多通道光譜檢測器大大減少了紫外區的雜散光。此外,通過采用積分半球單元,可以實現明亮的光學系統,并通過利用這一點重新激發熒光校正,可以進行高精度的測量。此外,QE-2100 能夠測量量子效率的溫度依賴性,并支持從紫外到近紅外的寬波長范圍。
                    • 可檢測單線態氧(活性氧)
                    • “光譜輻照度測量系統 IL100”評估光源的照度。 ?從光譜輻照度測量中高精度測量照度 ? 從紫外線到可見光和紅外線的寬測量波長范圍? 可選擇的照度頭適用于高斜入射特性等應用 ?光合作用研究必不可少的PFD和PPFD 可 通過專用軟件進行測量和照明 電源也是集體控制 這個設備追求到精良的基礎照度測量。
                    • 上一頁123456...11下一頁
                      上一頁下一頁

                    蘇公網安備 32050502000409號

                    久久精品免费看国产_久久精品免费视频_久久精品免费一区